Crédito: Universidad de Tianjin
Los científicos de la Universidad de Tianjin han desarrollado una tecnología de prueba no destructiva pionera para obleas micro-lideras, ofreciendo una solución muy necesaria para un desafío de la industria de larga data a través de un nuevo enfoque de “toque suave”.
Los micro-LED son ampliamente reconocidos como una tecnología fundamental para pantallas de alta gama de próxima generación. Lograr rendimientos casi perfectos durante la fabricación de la oblea es esencial para garantizar la calidad del producto y controlar los costos de reparación. Sin embargo, la ausencia de métodos efectivos de prueba de nivel de oblea no destructivos sigue siendo un desafío técnico importante.
Un equipo de investigación dirigido por el profesor Huang Xian de la Escuela de Instrumento de Precisión e Ingeniería Optoelectrónica en la Universidad de Tianjin ha abordado esta brecha crítica en un artículo publicado el 13 de junio en Nature Electronics.
El equipo introdujo una matriz de sonda tridimensional flexible capaz de adaptarse a los contornos microscópicos de las obleas micro-lideras, aplicando una presión tan baja como 0.9 MPa, comparable a la suavidad de una respiración suave. Este enfoque de contacto suave permite pruebas eléctricas de alto rendimiento sin rascar o dañar la superficie de la oblea.
“La presión de contacto ejercida por nuestras sondas flexibles es solo una diez milésima parte de las sondas rígidas convencionales”, explicó Huang. “Esto no solo conserva la superficie de la oblea, sino que también extiende significativamente la vida útil de la sonda. Incluso después de un millón de ciclos de contacto, las sondas conservan su condición original”.
Para apoyar esta innovación, el equipo también desarrolló un sistema de medición diseñado a medida que se integra con las sondas flexibles. Juntos, proporcionan una herramienta poderosa para el control de procesos y la detección de rendimiento en la fabricación micro-LED.
“Este avance establece una nueva base en el campo”, dijo Huang. “Cierra una gran brecha técnica en las pruebas de electroluminiscencia de micro-lideras y allana el camino para aplicaciones más amplias en la inspección avanzada de las obleas y la biofotónica”.
Actualmente, la tecnología está progresando hacia la comercialización en el Parque de Innovación de Educación Superior de Tiankai. Promete proporcionar una solución de prueba escalable, de bajo costo y no destructiva para la industria micro-LED de rápido crecimiento, al tiempo que amplía las aplicaciones prácticas de la electrónica flexible en una variedad de campos de alta tecnología.
Más información: Ziyue Wu et al, Medición de electroluminiscencia de obleas de diodos emisores de luz a microescala utilizando un cabezal de sonda flexible tridimensional, Nature Electronics (2025). Dos: 10.1038/s41928-025-01396-0
Proporcionado por la Universidad de Tianjin
Cita: el enfoque ‘Soft-touch’ avanza a las pruebas no destructivas para las obleas micro-lideras (2025, 23 de junio) Recuperado el 23 de junio de 2025 de https://techxplore.com/news/2025-06-soft-aproach-envances-nondestructive-micro.html
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